보유장비

Contact Angle measurement

Thu, 01 Jun 2017 14:50:46 +0900

기기세부정보 Automaticlally drop volume adjust by software(1㎕ per) Smart capture for Super hydrophilic material Static contact angle system by touch to surface and Sessile Drop Sessile drop method and touch to surface, Using in parallel Preview function can capture contact angle in an instant Pendent drop for Surface Tension (automatically calculate) Contact angle Rang : 0-180 degree Accuracy: 0.1 degree or more 출처 : 단국대 광에너지소재연구센터 http://www.cpem.re.kr/

Centrifugal separator

Thu, 01 Jun 2017 14:48:09 +0900

기기세부정보 Maintenance-free rotor spins up to 14,800 rpm (16,163 x g) Ideal for fast pelleting of DNA, RNA and proteins, and cell virus isolation Cold room compatible for flexibility with your protocols Is offered bundled with or without 24-place, autoclavable rotor for maximum sample throughput Compact to fit easily in the tightest of workspace environments with a height under 7 inches (176mm) and a footprint measuring only 8.9 by 10.5 inches (226 x 266 mm) 출처 : 단국대 광에너지소재연구센터 http://www.cpem.re.kr/

Capillary Rheometer

Thu, 01 Jun 2017 14:46:25 +0900

기기세부정보 모세관다이를 장착하여 고분자용융체의 Shear rate에 따른 Shear Viscosity를 측정하는 장치이며 또한 다이를 장착하여 고분자용융체를 일정한 속도로 밀어주어 fiber spinning를 할 수 있는 기기 Load Ranges : 0.2, 0.4, 1.2, 2.0 [kkgs] Speed : 0.06, 0.2, 0.6, 2.0, 6.0, 20.0 [mm/min] Thermal control : Heating~300℃ 출처 : 단국대 광에너지소재연구센터 http://www.cpem.re.kr/

Bar Coater

Thu, 01 Jun 2017 14:44:32 +0900

기기세부정보 Model : comate™- 3100 High speed type Sample bed size : 500 x 800 ㎜ Driving stroke : App. 650 ㎜ Speed : 100 ~ 1000 ㎜/sec Sample Plate : Standard, Vaccum, Heating plate, Vaccum & Heating plate Options : Applicators, Knife, Bar coaters, Magnetic Plate, etc. Power : AC220V 50/60Hz 1Φ 출처 : 단국대 광에너지소재연구센터 http://www.cpem.re.kr/

Atomic Force Microscopy

Thu, 01 Jun 2017 14:44:23 +0900

기기 세부정보 3-D영상 구축 107배의 확대로 인한 sub-nanometer scale resolution 수평 및 수직 분해능(0.01nm), Noise level(<0.3 RMS in vertical (Z)) 시료 전처리 과정이 거의 불필요하며 공기중에서 in situ 영상화 화상 획득 및 처리를 위한 NanoScope IIIa S/W사용 Contact, Tapping, Phase, Amplitude, Lift mode 및MFM mode Scanner size : 10nm x 10nm(X-Y), 2.5nm(Z), Type : 5250 E 측정Sample Size : Up to 15mm diameter and 5mm thick S/W : Cross section analysis, Roughness measurement, Grain size Depth analysis, Histogram analysis, Flatten, Planefit 출처 : 단국대 광에너지소재연구센터 http://www.cpem.re.kr/

X-ray Attachment

Thu, 01 Jun 2017 14:44:10 +0900

기기세부정보 CBO(Cross Beam Optics) 장착 가능 완전자동조정기능 간단한 광학계 전환 시료 수평형 고니오미터 분말절부터 In-plane까지 다양한 측정 대응 고속 X-선 검출기 부착 가능 출처 : 단국대 광에너지소재연구센터 http://www.cpem.re.kr/