고분자공학전공

  기기 세부정보

 3-D영상 구축 

 107배의 확대로 인한 sub-nanometer scale resolution 

 수평 및 수직 분해능(0.01nm), Noise level(<0.3 RMS in vertical (Z)) 

 시료 전처리 과정이 거의 불필요하며 공기중에서 in situ 영상화 

 화상 획득 및 처리를 위한 NanoScope IIIa S/W사용 

 Contact, Tapping, Phase, Amplitude, Lift mode 및MFM mode 

 Scanner size : 10nm x 10nm(X-Y), 2.5nm(Z), Type : 5250 E 

 측정Sample Size : Up to 15mm diameter and 5mm thick 

 S/W : Cross section analysis, Roughness measurement, Grain size 

  Depth analysis, Histogram analysis, Flatten, Planefit

출처 : 단국대 광에너지소재연구센터 http://www.cpem.re.kr/